IMI-2010影像测量仪,型号：IMI-2010,IMI-2515,IMI-3020详细介绍 ，本仪器具体功能如下： a)放大倍数最大可以到220倍，变化倍数简单方便； b)可以测量结构件上面的盲孔、沟槽等尺寸和上下不一致的通孔尺寸； c)可以测量在投影仪上不能或者不方便测量的二维几何尺寸； d)可以测量平面上的任意几何尺寸；可将实时测绘数据转为CAD成工程图; e) 精度3+L/150;光栅解率0.001mm f)可自动作R角、图形拷贝、剪切、删除、画平行线、垂直线及鸟瞰功能，方便画图； g)具有一般二元次测量的所有功能； h) 在工件图上直接画图、标注尺寸，可多点测量圆，提高测量精度； i) 可以将扫描或者拍照下来的工件图进行逆工程图从而达到质检的目的； J）SPC报表输出,可将当前所测数据进行分析,统计成一张报告.减除人工手操误差. k)可将量测之结果传送到WORD，EXECL而形成报表 

儀器型号	IMI-2010                 IMI-2515                     IMI-3020                     IMI-4030
金屬台尺寸	400 x 230                 450 x 280                  480 x 330                   606 x 466
玻璃台尺寸	260 x 160                 306 x 196                 350 x 250                    450 x 350
運動行程	200 x 100                  250 x 150                 300 x 200                    400 x 300
攝影機：	SONY 3/1”芯片彩色CCD,  工作距離：108mm
變焦物鏡倍率：	0.7~4.5X  ,
顯示器總倍率：	30~220X
顯示解析度：	0.001/0.0005mm
Z軸升降：	160mm                                                                   200mm
X、Y座標示值誤差:	≦(3+L/150)μm(L為被測長度單位：mm)
测量软件系统	M2.5D半自动测量软件系统
照明：	表面光源與透射光源均用LED，亮度可調
電源：	220V(AC),50Hz,30W
儀器重量(kg)

140                              170                           190                                240

 本仪器具体功能如下：
a)放大倍数最大可以到450倍，变化倍数简单方便；
b)可以测量结构件上面的盲孔、沟槽等尺寸和上下不一致的通孔尺寸；
c)可以测量在投影仪上不能或者不方便测量的二维几何尺寸；
d)可以测量平面上的任意几何尺寸；可将实时测绘数据转为CAD成工程图;
e) 精度3+L/150;光栅解率0.001/0.0005mm
f)可自动作R角、图形拷贝、剪切、删除、画平行线、垂直线及鸟瞰功能，方便画图；
g)具有一般二元次测量的所有功能；
h) 在工件图上直接画图、标注尺寸，可多点测量圆，提高测量精度；
i) 可以将扫描或者拍照下来的工件图进行逆工程图从而达到质检的目的；
J）SPC报表输出,可将当前所测数据进行分析,统计成一张报告.减除人工手操误差.
k)可将量测之结果传送到WORD，EXECL而形成报表